Ausschreibungen

Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung

Friedrich-Schiller-Universität Jena

Frist
34 Tage · 27. Okt. 2026
Leistung
· CPV 38000000
Region
DEG03
Quelle
EU-Oberschwelle (TED)
Veröffentlicht
24. Sept. 2026
Bekanntmachung
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Leistungsgegenstand

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.

KI-Angebotsentwurf

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