Reperta

Ausschreibungen

Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)

Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH

Frist
25 Tage · 10. Aug. 2026
Leistung
— · CPV 38000000
Region
DEB32
Quelle
EU-Oberschwelle (TED)
Veröffentlicht
17. Juli 2026
Bekanntmachung
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Leistungsgegenstand

Los1: DualBeam Focused Ion Beam Systems (FIB) Gegenstand ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines DualBeam Focused Ion Beam Systems (FIB) einschließlich Einweisung/Schulung und vollständiger Systemdokumentation. Die technischen Mindestanforderungen und Bewertungsaspekte ergeben sich aus den Dokumenten "Los1.25-1696.05.techn.Anforderungsprofil" und "Los1.25-1696.06.Wertungsmatrix". Los2: Transmissionselektronenmikroskop (TEM) Gegenstand ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines Transmissionselektronenmikroskops (TEM) einschließlich Einweisung/Schulung und vollständiger Systemdokumentation. Die technischen Mindestanforderungen und Bewertungsaspekte ergeben sich aus den Dokumenten "Los2.25-1707.05.techn.Anforderungsprofil" und "Los2.25-1707.06.Wertungsmatrix".

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