Ausschreibungen

200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz

IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik

Frist: 15 Tage · 24. Juli 2026
Leistung: — · CPV 38341300
Region: DE403
Quelle: Unterschwelle (national)
Veröffentlicht: 22. Juni 2026
Bekanntmachung: Original ansehen ↗

Leistungsgegenstand

200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz

KI-Angebotsentwurf

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