Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung

Leistungsgegenstand

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.

KI-Angebotsentwurf

Reperta schreibt einen strukturierten Entwurf für genau diese Ausschreibung — geerdet auf Ihr Firmenprofil.

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